聚焦瑞凱，傳遞環(huán)境檢測行業(yè)新動態(tài)
瑞凱持續(xù)加強可靠性環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)，助推電池業(yè)務(wù)發(fā)展
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瑞凱持續(xù)加強可靠性環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)，助推電池業(yè)務(wù)發(fā)展

電池測試應(yīng)用于多種工業(yè)領(lǐng)域，這些領(lǐng)域包括汽車、計算機、通訊、國防、和新能源市場，廣泛的應(yīng)用需要更加可靠的質(zhì)量保證和使用安全性。作為多年深耕鋰電領(lǐng)域、提供鋰電池環(huán)境可靠性測試設(shè)備的生產(chǎn)企業(yè)，瑞凱儀器也迎來了新一輪發(fā)展高潮，防爆型高低溫測試心技術(shù)，持續(xù)加強可靠性環(huán)境試驗設(shè)備的開發(fā)與拓展，為鋰電池安全保駕…
HASS常用應(yīng)力類型及篩選機理

HASS常用應(yīng)力類型及篩選機理

HASS作為一種剔除早期缺陷器件的工藝手段，常用的篩選應(yīng)力有溫度循環(huán)、機械應(yīng)力、電應(yīng)力及濕度等，篩選設(shè)計時通常采用上述兩…
18um銅線產(chǎn)品可靠性測試

18um銅線產(chǎn)品可靠性測試

待完成芯片的封裝以后，需要對產(chǎn)品進行可靠性方面的測試，以保證在長期使用中的可靠性?？煽啃詫嶒炘诜庋b中由Precon和Lo…
HAST與HALT、HASS之間的關(guān)系與區(qū)別

HAST與HALT、HASS之間的關(guān)系與區(qū)別

高加速應(yīng)力試驗(HAST)是指，通過使用高于正常工作應(yīng)力，對器件實施相應(yīng)試驗，確定器件薄弱環(huán)節(jié)及極限參數(shù)。主要分為高加速…
IGBT器件基本失效模式及機理

IGBT器件基本失效模式及機理

目前，國內(nèi)外對于IGBT器件失效的研究眾多，主要從兩方面入手，一方面是考慮器件自身的工作循環(huán)，另一方面是考慮器件的實際工…
LED晶片

LED晶片HAST加速壽命測試的介紹

因為目前的測試方式都不足以代表完整LED芯片的使用壽命和需花費冗長的時間。因此，有其他的團隊開始研究加速壽命測試方式和壽…
環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）

環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）理論講解

對研制和批生產(chǎn)質(zhì)量合格的全部產(chǎn)品零件、組件及整機，在一項或一系列環(huán)境應(yīng)力條件下進行工作，剔除有故障的產(chǎn)品，所以稱為環(huán)境應(yīng)…

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