1、范圍
    本規(guī)范規(guī)定了公司產(chǎn)品、半成品、及主要功能模塊的 高溫老化過(guò)程及操作規(guī)則。本規(guī)范適用于公司需進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)的產(chǎn)品。
    2、高溫老化篩選目的
    為提高產(chǎn)品可靠度，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期故障，確保整機(jī)優(yōu)秀品質(zhì)和期望壽命，進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期。
    3、基本要求
    3.1老化篩選對(duì)象
    3.1.1進(jìn)行老化試驗(yàn)的產(chǎn) 品應(yīng)是裝配調(diào)測(cè)合格品；
    3.1.2公司產(chǎn)品、 半成品、及主要功能模塊。
    3.2模擬狀態(tài)要求
    3.2.1為 保證產(chǎn)品的性能穩(wěn)定可靠，老化時(shí)應(yīng)模擬產(chǎn)品工作狀態(tài):
    3.2.2當(dāng)老化的產(chǎn)品需輸入信號(hào)時(shí)，應(yīng)在額定輸出功率狀態(tài)下進(jìn)行，同時(shí)做好散熱措施。
    3.2.3對(duì)于射頻設(shè)備應(yīng)
    設(shè)備的信號(hào)線和負(fù)載線的接入、接出應(yīng)按照基本操作要求進(jìn)行，并模擬設(shè)備的實(shí)際工作狀態(tài):
    a)設(shè)備輸出端應(yīng)與阻抗匹配的負(fù)載相連，負(fù)載的額定功率應(yīng)不小于整機(jī)額定輸出功率2倍~3倍:
    b)在信號(hào)源和設(shè)備之間，應(yīng)加上隔離器或環(huán)形器:
    c)嚴(yán)禁將 大功率功放的輸出信號(hào)通過(guò)合路器合路再進(jìn)入負(fù)載的連接方式。
    4、老化前的準(zhǔn)備及注意事項(xiàng)
    a)老化前應(yīng)確認(rèn)老化室設(shè) 備是否完好:
    b) 當(dāng)多臺(tái)高溫老化試驗(yàn)箱一起進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，各老化產(chǎn)品之間應(yīng)有足夠的間隙，以使溫度有足夠的均勻性。
    不應(yīng)將老化產(chǎn)品堆積或擺放無(wú)序，以免影響老化效果和對(duì)產(chǎn)品造成損壞。
    5、老化溫度和時(shí)間
    老化溫度、時(shí)間如下所示可任選一種:
    a)室溫條件 下通電連續(xù)老化不得少于96 h;
    b) 40 C士2 C條件下通電連續(xù)老化不得少于72 h;
    c) 45 C士2 C條件下通電連續(xù)老化不得少于48 h;
    d) 50 C士2 C條件下通電連續(xù)老化不得少于24 h; 
    e) 55 C士2 C條件下通電連續(xù)老化不得少于12 h.
    6、老化程序
    6.1 對(duì)老化產(chǎn)品施加產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的工作電壓。
    6.2 在老化產(chǎn)品通電的狀態(tài)下將高溫老化試驗(yàn)箱的溫度加熱至規(guī)定的試驗(yàn)溫度，老化過(guò)程中的環(huán)境溫度變化應(yīng)在規(guī)定溫度的±2℃ 范圍內(nèi)。
    6.3 老化溫度達(dá)到規(guī)定值，恒溫后開(kāi)始計(jì)時(shí)。
    6.4 老化過(guò)程中應(yīng)每隔2 h查看老化室的運(yùn)行是否穩(wěn)定，特別是測(cè)量溫度。老化過(guò)程中發(fā)現(xiàn)溫度異常時(shí)，應(yīng)立即切斷電源。待老化室恢復(fù)正常后再繼續(xù)進(jìn)行老化。
    6.5老化產(chǎn)品在老化過(guò)程中應(yīng)定時(shí)進(jìn)行主要性能指標(biāo)檢測(cè)，具體指標(biāo)種類及參數(shù)在轉(zhuǎn)產(chǎn)文件的技術(shù)說(shuō)明中規(guī)定。
    a)常規(guī)產(chǎn)品老化，每5 h~6 h測(cè)試一 次，并記錄測(cè)試時(shí)的溫度;
    b)常規(guī)產(chǎn)品老化，采用抽測(cè)方式，每次測(cè)試的產(chǎn)品應(yīng)不少于10%;
    c)遇到所測(cè)型 號(hào)設(shè)備存在問(wèn)題時(shí)，應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況，增加該類產(chǎn)品的檢測(cè)數(shù)量，并不少于10%。
    6.6老化過(guò)程中產(chǎn) 品出現(xiàn)故障時(shí)，應(yīng)在附錄A的備注欄中詳細(xì)記錄故障情況。
    6.7老化后的產(chǎn)品在室溫下至少放置2 h后，由生產(chǎn)計(jì)劃部進(jìn)行復(fù)測(cè)，并做好測(cè)試記錄，合格后提交檢驗(yàn)部門檢驗(yàn)。
    6.8 單盤的測(cè)試在老化后進(jìn)行，測(cè)試項(xiàng)目包括監(jiān)控功能、輸出電壓值等。抽測(cè)數(shù)量應(yīng)不少于20%，如老化后有不合格的試驗(yàn)樣品，該批次需全部測(cè)試。
    注:本規(guī)范中的單盤指直接提供給用戶的單盤或模塊。
    7、標(biāo)識(shí)
    a)老化測(cè)試合格的產(chǎn)品，應(yīng)在產(chǎn)品易觀查的表面用綠色標(biāo)簽做標(biāo)識(shí)；
    b)老化測(cè)試不合格的產(chǎn)品，應(yīng)在產(chǎn)品易觀查的表面用紅色標(biāo)簽做標(biāo)識(shí)。
    8、測(cè)試記錄
    8.1根據(jù)測(cè)試的項(xiàng)目填寫老化測(cè)試記錄，見(jiàn)附錄A。
    8.2 單盤老化測(cè)試記錄見(jiàn)附錄B.
    8.3 老化測(cè)試記錄表應(yīng)每月由指定人員歸檔。
    9、老化設(shè)備維護(hù)要求
    9.1老化試驗(yàn)的所有測(cè) 試器件應(yīng)定期進(jìn)行測(cè)試檢驗(yàn)，
    9.2所有老化設(shè)施的檢測(cè)應(yīng)每月進(jìn)行一次，主要檢測(cè)項(xiàng)目為: 
    老化設(shè)備溫控系統(tǒng)的校應(yīng):老化負(fù)載的駐波比測(cè)試;
    一信號(hào)源的輸出信號(hào)準(zhǔn)確度的測(cè)試;
    —電源的輸出電壓測(cè)試。
    9.3測(cè)試結(jié)果應(yīng)記錄， 格式按附錄C。