電感可靠性測(cè)試分為環(huán)境測(cè)試和物理測(cè)試兩種。一般的SMD型電感，貼片功率電感，插件電感等都會(huì)做這樣的測(cè)試。環(huán)境測(cè)試主要測(cè)試電感的耐溫性，耐濕性，熱沖擊等；物理測(cè)試主要是測(cè)試電感的強(qiáng)度，可焊性，再流焊，跌落，碰撞等。我司所有電感產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)都是基于這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)之上的，因此我們生產(chǎn)出來(lái)的電感才是真正的優(yōu)質(zhì)電感。

    一、電感可靠性測(cè)試之環(huán)境測(cè)試

     MIL-STD-202G Method 108A 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 
    1.無(wú)明顯的外觀缺陷 
    2.感值變化不超過(guò)10%
    3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過(guò)30%
    4.直流電阻變化不超過(guò)10% 溫度:85±2℃ 時(shí)間:96±2hours樣品在室溫下放置1小時(shí),不超過(guò)2小時(shí)必須測(cè)試。
     IEC 68-2-1A 6.1 6.2 低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)
    1.無(wú)明顯的外觀缺陷 
    2.感值變化不超過(guò)10%
    3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過(guò)30% 
    4.直流電阻變化不超過(guò)10%，溫度:-25±2℃ 時(shí)間:96±2hours 樣品在室溫下放置1小時(shí),不超過(guò)2小時(shí)必須測(cè)試。
     MIL-STD-202G Method 103B 濕度測(cè)試
    1.無(wú)明顯的外觀缺陷
    2.感值變化不超過(guò)10%
    3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過(guò)30% 

    4.直流電阻變化不超過(guò)10% ，（1）樣品必須先在40±5℃條件下干燥24小時(shí)； （2）干燥后測(cè)試；（3）暴露:溫度: 40±2℃,濕度:93±3%RH 時(shí)間: 96±2小時(shí) ；（4）暴露結(jié)束后,在試驗(yàn)箱中進(jìn)行測(cè)試；（5）樣品在室溫下放置1小時(shí),不超過(guò)2小時(shí)必須測(cè)試。

    MIL-STD-202G Method 107G 熱沖擊測(cè)試 

    1.無(wú)明顯的外觀缺陷
    2.感值變化不超過(guò)10%
    3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過(guò)30% 
    4.直流電阻變化不超過(guò)10%從-40℃作用T分鐘,然后溫度沖擊到125℃作用T分鐘,作為一個(gè)循環(huán),共作用20次。

    二、電感可靠性測(cè)試之物理性試驗(yàn)

     MIL-STD-202G Method 208H IPC-J-STD-002B 可焊性測(cè)試

    solder coverage端子必須有95%以上著錫 

    1.端子浸入助焊劑然后浸入245±5℃錫爐中5秒 

    2.焊料: Sn(63)/Pb(37)

     3.助焊劑:松香助焊劑

    IPC J-STD-020B 過(guò)再流焊測(cè)試

     1.無(wú)明顯的外觀缺陷 

    2.感值變化不超過(guò)10% 

    3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過(guò)30%

    4.直流電阻變化不超過(guò)10%，（1）參照下頁(yè)回流焊曲線過(guò)三次；（2）峰值溫度為: 245±5℃

    MIL-STD-202G Method 201A 振動(dòng)測(cè)試 

    1.無(wú)明顯的外觀缺陷 

    2.感值變化不超過(guò)10%

    3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過(guò)30% 

    4.直流電阻變化不超過(guò)10% 用10-55Hz振動(dòng)頻率0.75mm振幅沿X,Y,Z方向各振動(dòng)2小時(shí).(共6小時(shí))

    MIL-STD-202G Method 203C 落下測(cè)試 

    1.無(wú)明顯的外觀缺陷 

    2.感值變化不超過(guò)10%

    3.品質(zhì)因數(shù)變化不超過(guò)30%

   4.直流電阻變化不超過(guò)10%，將產(chǎn)品包裝后從1米高度自然落下至試驗(yàn)板上 1角1棱2面。

    JIS C 5321 :1997 端子強(qiáng)度試驗(yàn) 

    定義:A:焊接端子截面積 A≤8mm2    推力≥5N   時(shí)間:30秒 8mm2≤20mm2  推力≥10N   時(shí)間:10秒20mm2      推力≥20N   時(shí)間:10秒 彎折測(cè)試:將產(chǎn)品焊于PCB上,分別經(jīng)過(guò)推力測(cè)試和彎折測(cè)試后端子不會(huì)發(fā)生松脫. 將PCB對(duì)中彎折,到達(dá)撓度2mm。

    IEC 68-2-45:1993 耐溶劑性試驗(yàn) 

    無(wú)外觀破壞及標(biāo)記損壞在IPA溶劑中浸泡5±0.5分鐘,室溫下干燥5分鐘,然后擦拭10次。