您的位置： 首頁 > 新聞資訊 > 電子產(chǎn)品老化溫度及時間確認

電子產(chǎn)品老化溫度及時間確認

作者：網(wǎng)絡編輯：瑞凱儀器來源： www.shubeikang.com 發(fā)布日期： 2021.05.11

    所謂老化試驗是在不破壞產(chǎn)品失效的基礎(chǔ)上施加合理的環(huán)境應力和電應力，將其內(nèi)部的潛在缺陷加速變成故障，盡快達到浴盆曲線中期失效。通常都以溫度作為應力而常見，公式參見下面。
    SS=1-exp[-0.0017(R+0.6)0.6t]
    式中，SS——篩選強度(篩選出的缺陷品數(shù)的平均值/總的潛在缺陷品)
    R——高溫與室溫（一般取25℃）的差值
    t——恒定高溫持續(xù)時間（h）
    e= 2.718282

篩選強度與溫度、時間對應表：

電子產(chǎn)品老化溫度及時間確認