電子器部件及產(chǎn)品老化試驗(yàn)方法
作者：
salmon范
編輯：
瑞凱儀器
來源：
www.shubeikang.com
發(fā)布日期： 2021.03.18
1、范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子器部件及產(chǎn)品老化試驗(yàn)方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子器部件及產(chǎn)品的老化試驗(yàn)。
2、規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T 2423. 1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫（IEC60068-2-1-2007，IDT）
GB/T 2423. 2 -2008電工 電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫（IEC 60068-2-2-2007，IDT）
GB/T2423. 4-2008電工 電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）（IEC 60068-2-30 -2005，IDT）
GB/T2423.10 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)（正弦） （IEC 60068-2-6， IDT）
GB/T2423.11電工
電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)一般要求（IEC 68-2-34，IDT）
3 3試驗(yàn)方法
3.1 將處于室溫的試品（各類電子器部件及產(chǎn)品），在不加包裝、不通電、“準(zhǔn)備使用”狀態(tài)下， 按其正常位置放入已調(diào)到規(guī)定試驗(yàn)溫度的高低溫老化試驗(yàn)箱內(nèi)。
3.2使高低溫老化試驗(yàn)箱溫度調(diào)整到規(guī)定的試驗(yàn)溫度下，并使試品溫度達(dá)到穩(wěn)定。
3.3試品應(yīng)均勻擺放在高低溫老化試驗(yàn)箱內(nèi)，試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間應(yīng)從溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)算起。
3.4 各類電子器部件在組裝前應(yīng)做老化試驗(yàn)。
3.5老化試驗(yàn)結(jié)束后的試品應(yīng)放在恢復(fù)的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件 下保持1h以上。然后，按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行外觀檢查及有關(guān)電氣、機(jī)械性能的檢測(cè)。
3.6 各類器部件及產(chǎn)品的試驗(yàn)項(xiàng)目按表1規(guī)定進(jìn)行。
3.7除上述試驗(yàn)項(xiàng)目外，各公司可根據(jù)產(chǎn)品性能和有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)增加老化試驗(yàn)項(xiàng)目。
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