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ESS試驗(yàn)溫度循環(huán)次數(shù)確定方法研究

作者: 網(wǎng)絡(luò) 編輯: 瑞凱儀器 來源: 網(wǎng)絡(luò) 發(fā)布日期: 2020.12.24
    環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)試驗(yàn) 是電子產(chǎn)品剔除早起故障的有效手段。ESS試驗(yàn)由溫度循環(huán)試驗(yàn)和隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)組成,試驗(yàn)參數(shù)的選取直接影響到篩選的有效性。循環(huán)次數(shù)是溫度循環(huán)試驗(yàn)的重要參數(shù),決定著如何以有限的時(shí)間、相對(duì)較少的費(fèi)用得到理想的篩選效果。目前,電子裝備環(huán)境應(yīng)力篩選主要依據(jù)GJB 1032-1990《電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法》,但由于該標(biāo)準(zhǔn)的頒發(fā)時(shí)間較早,隨著科技的發(fā)展和進(jìn)步,對(duì)電子設(shè)備可靠性指標(biāo)要求也越來也高,循環(huán)次數(shù)選取是一個(gè)值得探討的問題。
    1、溫度循環(huán)應(yīng)力篩選效果數(shù)學(xué)模型
    1.1環(huán)境應(yīng)力篩選的有效性
    環(huán)境應(yīng)力篩選的有效性是指其迫使?jié)撛谌毕葑兂煽蓹z測(cè)出的故障,以便對(duì)缺陷源實(shí)施改正措施的技術(shù)效果及費(fèi)用效益。一個(gè)良好的環(huán)境應(yīng)力篩選具備以下特性:
    1)能夠很快析出潛在缺陷,包括析出適當(dāng)數(shù)量的固有(設(shè)計(jì))缺陷;
    2)不會(huì)引起不適當(dāng)?shù)脑O(shè)計(jì)故障,誘發(fā)附加的故障,消耗受篩產(chǎn)品壽命;
    3)不應(yīng)對(duì)制造過程控制增加限制。
    1.2溫度循環(huán)篩選度的數(shù)學(xué)模型
    環(huán)境應(yīng)力篩選的效果,取決于施加在產(chǎn)品上的不同應(yīng)力,而應(yīng)力的大小與其所選擇的參數(shù)有關(guān),產(chǎn)生的篩選效果也不一樣,這種效果用篩選度的概念進(jìn)行表述。

    溫度循環(huán)篩選度的數(shù)學(xué)模型見式(1)。

溫度循環(huán)篩選度的數(shù)學(xué)模型

    式中 : SS為篩選度;R為溫度變化范圍,℃;v為溫度變化速率,℃/min;n為循環(huán)次數(shù)。

    溫度變化幅度為80℃時(shí),幾種溫度變化速率的篩選度對(duì)比曲線如圖1所示。從圖1中看出,溫度變化速率越快,篩選度越大;同一溫度變化速率﹑溫度變化范圍,隨著循環(huán)次數(shù)的增加趨于定值,篩選度的變化不明顯。

溫度變化速率的篩選度對(duì)比曲線

    2、實(shí)例驗(yàn)證
    對(duì)某雷達(dá)單元利用溫度循環(huán)篩選試驗(yàn)箱 進(jìn)行了跟蹤及統(tǒng)計(jì)分析研究,該雷達(dá)單元溫度循環(huán)篩選應(yīng)力參數(shù)為:
    1)溫度:低溫-40℃,高溫+50 ℃;
    2)循環(huán)次數(shù):10次;
    3)溫度變化速率:5℃/min;
    4)保持時(shí)間:1.5h。

    該雷達(dá)P100, P200, P300共3個(gè)單元、7個(gè)批次的篩選故障統(tǒng)計(jì)見表1。

篩選故障統(tǒng)計(jì)

    求取估計(jì)值,見式(2)。
    E(X)=∑n x Pi           (2)
    式中:E(X)為故障統(tǒng)計(jì)數(shù)學(xué)期望;Pi為各循環(huán)的故障率,Pi=Ni/N總 ,Ni與N總分別為各次循環(huán)故障數(shù)與故障總數(shù)。
    將表1中的數(shù)據(jù)代入式(2)得:
    E(X)=1×0.17+2×0.15+3×0.13+4×0.15+5x0.09+6×0.07+7×0.07+8× 0.07+9x 0.06+10×0.03=4.22

    可以得出某雷達(dá)循環(huán)時(shí)出現(xiàn)故障的平均循環(huán)次數(shù)應(yīng)為第4次,同時(shí)通過觀察,各循環(huán)的故障率和循環(huán)次數(shù)的關(guān)系近似服從x(n)2分布。為此利用x(n)2分布建立循環(huán)次數(shù)和故障率關(guān)系的數(shù)學(xué)模型。x(n)2分布的E(X)=n ,所以可近似認(rèn)為該雷達(dá)在溫度循環(huán)中剔除故障的數(shù)目和循環(huán)次數(shù)的關(guān)系服從x(4)2分布。某雷達(dá)循環(huán)的故障比率分布如圖2所示。

達(dá)循環(huán)的故障比率分布

    根據(jù)x(n)2分布的上側(cè)分位點(diǎn)查表,得到置信度見表2。

置信度

    對(duì)于該雷達(dá)產(chǎn)品組成單元,當(dāng)循環(huán)數(shù)達(dá)到8次以上時(shí),可以暴露和剔除90%的故障,即認(rèn)為篩選度為0.90;當(dāng)循環(huán)數(shù)達(dá)到10次以上時(shí),可以暴露和剔除95%的故障,即認(rèn)為篩選度為0.95;當(dāng)循環(huán)數(shù)達(dá)到11次以上時(shí),可以暴露和剔除97%的故障,即認(rèn)為篩選度為0.97。
    上述分析可以發(fā)現(xiàn),溫度范圍、溫變速率﹑保溫時(shí)間一定,循環(huán)次數(shù)達(dá)到一定的循環(huán)次數(shù)后,篩選中所能暴露的故障數(shù)目會(huì)趨于飽和。應(yīng)力大小一定,延長時(shí)間對(duì)篩選效果影響甚微。

    同樣選取R=90℃ , v=5℃/min,n分別選取8,10,11代入式(1),得出溫度循環(huán)篩選度,見表3。

溫度循環(huán)篩選度

    3、數(shù)據(jù)分析

    綜合表2、表3數(shù)據(jù)并計(jì)算相應(yīng)比值,見表4。

溫度循環(huán)計(jì)算篩選度與試驗(yàn)篩選度對(duì)比

    從表4數(shù)據(jù)可以得出:
    1)針對(duì)雷達(dá)單元選取相同的溫度變化范圍、溫度變化速率,循環(huán)次數(shù)不同,實(shí)際篩選度大于理論篩選度,理論公式的推導(dǎo)數(shù)據(jù)來源于電子產(chǎn)品單板,組件與單元,組成雷達(dá)的單元需要進(jìn)行適當(dāng)修正;
    2)雷達(dá)單元的溫度循環(huán)篩選度修正系數(shù)取值為1.05~1.10。
    4、結(jié)語
    環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)參數(shù)的正確選取既能提高篩選效率,剔除產(chǎn)品早期故障,又能大大節(jié)約時(shí)間與資金。文中只對(duì)溫度循環(huán)的循環(huán)次數(shù)選取加以論述,以期對(duì)其他參數(shù)選取起到借鑒作用。
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