試驗證明，大多數(shù)炎熱條件下元器件的退化現(xiàn)象是直接或間接的由于有缺陷的絕緣材料吸附水蒸氣和水膜，以及由于金屬和絕緣材料表面變濕引起。同時，在潮濕、溫度和電應力的共同作用下,會引起電化學反應和金屬腐蝕，導致電子設備的絕緣電阻下降、漏電增加，嚴重時出現(xiàn)飛狐、擊穿的電路損壞等現(xiàn)象。濕熱試驗一方面可以模擬實際使用中的濕熱環(huán)境對產品的影響，另一方面也可以加速元件和材料在典型的高溫高濕條件下的耐潮濕劣化影響的能力。
    1、恒定濕熱與交變濕熱的對比
    1.1試驗目的及適用范圍：
    恒定濕熱：確定電工電子產品在高濕度條件下使用、貯存和運輸?shù)倪m應性。
    交變濕熱：確定電工電子產品在高濕度與溫度循環(huán)變化組合的情況下使用、運輸和貯存的適應性。
    1.2作用機理
    恒定濕熱：高溫高濕作用在樣品上，可以構成水汽吸附、吸收和擴散等作用。很多材料在吸潮后膨脹，性能變壞，引起物質強度降低及其他主要機械性能的變化，吸附了水汽的絕緣材料會引起電性能下降。
    交變濕熱：在高濕條件下，利用溫度循環(huán)引起的凝露和干燥的交替過程，使進入樣品內部的水汽產生“呼吸” 作用，從而使腐蝕過程加速。
    1.3常用標準
    恒定濕熱：GB/T 2423.3. GJB 360B、IEC 60068-2-78
    交變濕熱：GB/T 2423. 4、GJB 360B. GJB 548B、GJB150. 9A、IEC 60068-2 -30
    2、恒定濕熱試驗方法

    2.1 常用的嚴酷等級（見表2 ）

    2.2試驗步驟
    2.2.1預處理: GJB 360B要求樣品必須在（ 40+5）℃環(huán)境下預處理24 h, GB/T 2423.3則無要求，實際測試過程中根據(jù)具體情況選擇是否進行預處理。
    2.2.2樣品放置于 高低溫濕熱試驗箱內，注意保持樣品與箱壁的距離，然后調整箱內環(huán)境為標準大氣環(huán)境（一般為25℃、50%）
    2.2.3以不大于1 ℃ /min的速率升溫至規(guī)定的嚴酷等級,并使樣品達到穩(wěn)定。此階段保持濕度為常濕（50% ），以避免樣品冷凝現(xiàn)象的發(fā)生;然后在2h內調整箱內的濕度達到規(guī)定的試驗嚴酷等級。
    2.2.4待箱內溫濕度值達到規(guī)定值并穩(wěn)定后，開始計算試驗持續(xù)時間,并在高溫高濕環(huán)境下保持規(guī)定的時間。
    2.2.5試驗后恢復:應先在0.5 h內降濕至常濕，然后在0.5h內將溫度恢復至常溫。
    2.3試驗中斷處理
    測試過程中遇到突然停電等特殊原因造成試驗被迫中斷的情況時，建議按照以下方式操作:
    1）如果在中斷過程中箱內環(huán)境條件沒有超過允許的誤差范圍，此時中斷的時間應作為總的試驗時間的--部分（一般為瞬間斷電后及時通電恢復箱內環(huán)境） ;
    2）當中斷過程期間試驗條件低于允許誤差下限，那么應重新達到要求的試驗環(huán)境，并剔除誤差范圍以外的測試時間，一直進行到完成規(guī)定的試驗時間;
    3）如果出現(xiàn)過試驗的情況，建議好停止試驗，重新用新的樣品進行試驗,若經(jīng)過相關技術人員的判定，認為超過要求的試驗條件不會直接造成試驗樣品特性的破壞，或者該樣品為可修復的產品，那么可以按照第二條處理，如果在以后的試驗中出現(xiàn)樣品失效,那么應該認為該項試驗結果無效。

    2.4恒定濕熱測試曲線示例（見圖1）