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1、試驗(yàn)?zāi)康?/span>

三個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)中溫度沖擊試驗(yàn)敘述的試驗(yàn)?zāi)康氖腔疽恢碌模皇潜磉_(dá)方式略有區(qū)別。應(yīng)當(dāng)指出，這種表達(dá)方式比較含糊和籠統(tǒng)。實(shí)際上溫度沖擊試驗(yàn)作為一種工具，應(yīng)用在產(chǎn)品研制生產(chǎn)的不同的階段時(shí)的目的是不同的。工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺陷；產(chǎn)品定型或設(shè)計(jì)鑒定和批產(chǎn)階段用于驗(yàn)證產(chǎn)品對溫度沖擊環(huán)境的適應(yīng)性，為設(shè)計(jì)定型和批產(chǎn)驗(yàn)收決策提供依據(jù)；作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用時(shí)，目的是剔除產(chǎn)品的早期故障，因此在編寫研制過程不同階段的環(huán)境試驗(yàn)大綱或篩選大綱，試驗(yàn)報(bào)告或篩選報(bào)告時(shí)，應(yīng)將其目的的具體化，不宜象表1中的那樣壓縮地表述。

2、應(yīng)用對象

三個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)中溫度沖擊試驗(yàn)的應(yīng)用產(chǎn)品層次略有不同。GJB 150規(guī)定只適用于設(shè)備，而810F和GB 2423中規(guī)定可適用于元器件、部件、設(shè)備等各個(gè)組裝等級。CJB 150是以美軍標(biāo)810C/D兩個(gè)版本為基礎(chǔ)制定的，美軍標(biāo)體系中元器件溫度沖擊試驗(yàn)另有單獨(dú)的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)MIL- -STD- 202F《電工電子元器件環(huán)境試驗(yàn)方法》。我國也以202F標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)制定了我國的電工電子元器件的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)GJB 360《電工電子元器件環(huán)境試驗(yàn)方法》，這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中均有溫度沖擊試驗(yàn)分標(biāo)準(zhǔn)。因此，GJB150和810C/D中溫度沖擊試驗(yàn)應(yīng)用產(chǎn)品僅限于設(shè)備。GB 2423系列標(biāo)準(zhǔn)屬于歐洲電工委員會(huì)(IEC)標(biāo)準(zhǔn)的體系，尚未發(fā)現(xiàn)該標(biāo)準(zhǔn)體系中單獨(dú)給出元器件的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)，所以GB 2423適用于各個(gè)組裝等級產(chǎn)品的規(guī)定有一定的合理性。然而810F中規(guī)定也適用于元部件規(guī)定，是與202F標(biāo)準(zhǔn)相矛盾的，不夠合理，目前沒有見到如此規(guī)定的說明。

3、應(yīng)用介質(zhì)

GJB 150和810F的溫度沖擊試驗(yàn)中規(guī)定使用的介質(zhì)限于空氣，而GB 2423溫度變化試驗(yàn)中的，Na、Nb使用的介質(zhì)也為空氣。Nc試驗(yàn)使用的介質(zhì)是液體。使用什么樣的介質(zhì)主要取決于產(chǎn)品實(shí)際壽命期內(nèi)遇到的介質(zhì)類型。顯然使用液體作為介質(zhì)進(jìn)行的溫度沖擊試驗(yàn)更為嚴(yán)酷。