瑞凱_高低溫試驗(yàn)箱_恒溫恒濕試驗(yàn)箱_冷熱沖擊試驗(yàn)箱
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HAST設(shè)備

HAST設(shè)備

產(chǎn)品特點(diǎn)：

可定制BIAS偏壓端子組數(shù)，提供產(chǎn)品通電測(cè)試

通過電腦安全便捷的遠(yuǎn)程訪問

多層級(jí)的敏感數(shù)據(jù)保護(hù)

便捷的程序入口、試驗(yàn)設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控

試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進(jìn)行傳輸

可提供130℃溫度、濕度85%RH和230KPa大氣壓的測(cè)試條件

服務(wù)熱線： 400-088-3892
產(chǎn)品簡(jiǎn)介 / Introduction

產(chǎn)品 · 詳情product details

HAST

設(shè)備用途Equipment use

HAST設(shè)備用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環(huán)境下的可靠性。通過溫度、濕度、大氣壓力條件下應(yīng)用于加速濕氣的滲透，可通過外部保護(hù)材料（塑封料或封口），或在外部保護(hù)材料與金屬傳導(dǎo)材料之間界面。它采用了嚴(yán)格的溫度，濕度，大氣壓、電壓條件，該條件會(huì)加速水分滲透到材料內(nèi)部與金屬導(dǎo)體之間的電化學(xué)反應(yīng)。失效機(jī)制：電離腐蝕，封裝密封性。


準(zhǔn)時(shí)交貨準(zhǔn)時(shí)交貨率高達(dá)99% 立即咨詢

產(chǎn)品 · 特點(diǎn)Product features

  • 設(shè)計(jì)三種控制模式

    不飽和控制(干濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤(rùn)飽和控制。

  • 安全多重保護(hù)功能

    各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機(jī)保護(hù)；

  • 穩(wěn)定可帶電測(cè)試

    可定制BIAS偏壓端子組數(shù)，提供產(chǎn)品通電測(cè)試；

  • 選擇濕度自由選擇

    飽和（100%R.H濕度）與非飽和（75%R.H濕度）自由設(shè)定；

  • 智能智能化高

    支持電腦連接，
    利用USB數(shù)據(jù)、
    曲線導(dǎo)出保存

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱

HAST試驗(yàn)箱參數(shù)規(guī)格


    滿足測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

    GB-T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
    IEC 60068-2-66-1994 環(huán)境試驗(yàn) 第2-66部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)
    JESD22-A100 循環(huán)溫濕度偏置壽命
    JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測(cè)試
    JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無(wú)偏置高壓蒸煮
    JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命（IC壽命試驗(yàn)）
    JESD22-A110 高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)（HAST）
    JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無(wú)偏壓HAST(無(wú)偏置電壓未飽和高壓蒸汽)等

    舉例：

    適用范圍:  該試驗(yàn)檢查芯片及其他產(chǎn)品材料長(zhǎng)期貯存條件下，高溫和時(shí)間對(duì)器件的影響。本規(guī)范適用于量產(chǎn)芯片驗(yàn)證測(cè)試階段的HAST測(cè)試需求，僅針對(duì)非密封封裝（塑料封裝），帶偏置（bHAST）和不帶偏置（uHAST）的測(cè)試。
    溫度、濕度、氣壓、測(cè)試時(shí)間
    ? 通常選擇HAST-96，即：130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測(cè)試時(shí)間。 
    ? 測(cè)試過程中，建議調(diào)試階段監(jiān)控芯片殼溫、功耗數(shù)據(jù)推算芯片結(jié)溫，要保證結(jié)溫不能過 高，并在測(cè)試過程中定期記錄。結(jié)溫推算方法參考《HTOL測(cè)試技術(shù)規(guī)范》。
    ? 如果殼溫與環(huán)溫差值或者功耗滿足下表三種關(guān)系時(shí)，特別是當(dāng)殼溫與環(huán)溫差值超過 10℃時(shí)，需考慮周期性的電壓拉偏策略。
    ? 注意測(cè)試起始時(shí)間是從環(huán)境條件達(dá)到規(guī)定條件后開始計(jì)算；結(jié)束時(shí)間為開始降溫降壓操 作的時(shí)間點(diǎn)。

    電壓拉偏

    uHAST測(cè)試不帶電壓拉偏， 不需要關(guān)注該節(jié)；
    bHAST需要帶電壓拉偏 ，遵循以下原則：
    （1） 所有電源上電，電壓：推薦操作范圍電壓（Maximum Recommended Operating Conditions）
    （2） 芯片、材料功耗?。〝?shù)字部分不翻轉(zhuǎn)、輸入晶振短接、其他降功耗方法）；
    （3） 輸入管腳在輸入電壓允許范圍內(nèi)拉高。
    （4） 其他管腳，如時(shí)鐘端、復(fù)位端、輸出管腳在輸出范圍內(nèi)隨機(jī)拉高或者拉低；

HAST設(shè)備

HAST設(shè)備生產(chǎn)廠家

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱合作案例

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瑞凱儀器總部

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HAST試驗(yàn)箱

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產(chǎn)品特點(diǎn)：用戶可以查看他們希望查看任何數(shù)據(jù)通過電腦安全便捷的遠(yuǎn)程訪問多層級(jí)的敏感數(shù)據(jù)保護(hù)便捷的程序入口、試驗(yàn)設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進(jìn)行傳輸HAST測(cè)試條件有130℃、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測(cè)試時(shí)間。
快速溫度變化試驗(yàn)箱

快速溫度變化試驗(yàn)箱

產(chǎn)品特點(diǎn)：·多層級(jí)密碼安全保護(hù)系統(tǒng)來(lái)保護(hù)用戶的寶貴數(shù)據(jù)·可以使用電子表格格式下載試驗(yàn)數(shù)據(jù)·產(chǎn)品溫度控制：通過提高環(huán)境空氣目標(biāo)溫度來(lái)控制產(chǎn)品溫度，進(jìn)而提高產(chǎn)品溫度變化率·系統(tǒng)監(jiān)控：檢測(cè)制冷系統(tǒng)的壓力和溫度是否過高，并在故障出現(xiàn)時(shí)提醒用戶控制器程序編輯·在單一界面完成程序的所有編輯和查看在單一界面完成程序的所有編輯和查看工作·支持線性溫度控制
步入式高低溫濕熱試驗(yàn)箱

步入式高低溫濕熱試驗(yàn)箱

品牌：RIUKAI產(chǎn)地：廣東·東莞內(nèi)箱容積：17000L（可定制）溫度范圍：-40℃～+150℃（可定制低溫-70℃、-60℃、-20℃等）濕度范圍：20%～98%RH（可定制5%~98%RH、10%~98%RH）步入式高低溫濕熱試驗(yàn)箱是用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試的儀器。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱

冷熱沖擊試驗(yàn)箱

高溫槽溫度范圍：+60℃～+200℃（非標(biāo)可定制180℃、200℃）低溫槽溫度范圍：A(-55℃～-10℃);B(-65℃～-10℃);C(-80℃～-10℃)升溫時(shí)間：+60℃～+200℃≤35min降溫時(shí)間：A(+20℃～-55℃)≤70min;B(+20℃～-65℃)≤80min;C(+20℃～-80℃)≤90min試驗(yàn)方式：氣動(dòng)切換，吊籃移動(dòng)式?jīng)_擊恢復(fù)時(shí)間：≤5min吊籃移動(dòng)時(shí)間：10S以內(nèi)

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