熱門關(guān)鍵詞： 高低溫試驗(yàn)箱 可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱 PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī) 無風(fēng)烤箱 鹽霧試驗(yàn)箱
三層獨(dú)立控溫試驗(yàn)箱采用三個(gè)控制系統(tǒng)對每個(gè)測試箱體的溫度濕度和冷凍系統(tǒng)進(jìn)行獨(dú)立控溫，方便試件之間的對比，更節(jié)省占地空間和節(jié)約成本。
溫度范圍：-40～+150℃（可非標(biāo)定制）
三層獨(dú)立控溫試驗(yàn)箱采用三個(gè)控制系統(tǒng)對每個(gè)測試箱體的溫度濕度和冷凍系統(tǒng)進(jìn)行獨(dú)立控溫，方便試件之間的對比，更節(jié)省占地空間和節(jié)約成本。本設(shè)備一般應(yīng)用于電子產(chǎn)品及材料、電池、電芯、塑料產(chǎn)品、金屬材料、汽車零部件、航天航空、高?？蒲械龋缧枳龇辣δ艿脑囼?yàn)箱需定制各種防爆系統(tǒng)，具體與我司工作人員詳細(xì)溝通。
銷售熱線：18938563648 立即咨詢
滿足GB/T2423.1(IEC60068-2-1)；
GB/T2423.2(IEC60068-2-2)；
ISO16750；GB/T14710；
GB/T13543；
JESD22等系列標(biāo)準(zhǔn)中的溫度試驗(yàn)。
全自動(dòng)配合待測品負(fù)載量控制壓縮機(jī)冷媒流量達(dá)到省電目的
有效的低濕度控制范圍40℃/10%RH效能
同業(yè)數(shù)量多機(jī)臺(tái)安全保護(hù)偵測點(diǎn)
斜率段與恒溫段同步溫濕度設(shè)定
完整即時(shí)試驗(yàn)曲線分析顯示，無時(shí)間限制
試驗(yàn)結(jié)束待測品回常溫保護(hù)機(jī)制
機(jī)臺(tái)蓄水桶預(yù)知缺水警告
溫濕度試驗(yàn)設(shè)備的標(biāo)志性產(chǎn)品。適用標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱 （12h+12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)
GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
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