本規(guī)范規(guī)定了電容式觸摸屏單體環(huán)境適應(yīng)可靠性測(cè)試，明確了各個(gè)測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試目的具體方法、判斷標(biāo)準(zhǔn)等

1、低溫測(cè)試

1.1測(cè)試目的：模擬低端條件下的儲(chǔ)存與使用，確定產(chǎn)品在低溫狀態(tài)下的適用性，不會(huì)在極端低溫條件下產(chǎn)品永久性損壞。
1.2測(cè)試條件
1）在-30℃環(huán)境工作240小時(shí)；
2）測(cè)試樣品數(shù)量：10pcs(通電）+10pcs(不通電）
1.3測(cè)試程序
1）測(cè)試前對(duì)樣品電性能和主要指標(biāo)以及外觀進(jìn)行檢測(cè)，確保產(chǎn)品測(cè)試前OK

2）將20pcs樣品放置在高低溫試驗(yàn)箱中，控制試驗(yàn)箱溫度按照穩(wěn)定溫變率降低，直至試驗(yàn)箱溫度為-30℃，持續(xù)240小時(shí)進(jìn)行測(cè)試，恢復(fù)常溫2h 后在再次檢查外觀、機(jī)械及各項(xiàng)性能指標(biāo)

1.4合格判據(jù)
1.產(chǎn)品取出高低溫試驗(yàn)箱后立即對(duì)外觀進(jìn)行全檢，外觀不能出現(xiàn)氣泡，黃變，AF膜層脫落等失效現(xiàn)象
2.常溫狀態(tài)下恢復(fù)2小后其外觀、機(jī)械功能和電氣功能正常；TP主要性能指標(biāo)（電容值、線性度、靈敏度、準(zhǔn)確度）達(dá)到要求；測(cè)試結(jié)果必須滿足全部OK，否則判定為測(cè)試NG

2、溫度沖擊測(cè)試

2.1測(cè)試目的
驗(yàn)證觸摸屏樣品經(jīng)受急劇溫度變化的能力，驗(yàn)證整機(jī)在快速溫變化時(shí)，是否可以正常工作。
2.2測(cè)試條件
溫度沖擊試驗(yàn)箱設(shè)定：低溫-40℃，高溫85℃，高低溫各停留0.5小時(shí)，高低溫切換時(shí)間小于5分鐘，共100個(gè)循環(huán)，每個(gè)循環(huán)包括低溫和高溫各1次停留；
測(cè)試樣品數(shù)量：
a）樣品階段（V3IV4、VN1VN2）：32pcs/次，V3V4一次，VN1IVN2一次爬坡階段(產(chǎn)量≥3K）：≥64pcs
c）量產(chǎn)階段：供應(yīng)商1pcs/班/生產(chǎn)線3.2.3測(cè)試程序
1）測(cè)試前對(duì)樣品電性能和主要指標(biāo)以及外觀進(jìn)行檢測(cè)；
2）樣品不通電，調(diào)節(jié)設(shè)定溫度沖擊試驗(yàn)箱低溫溫度為-40℃，溫度沖擊試驗(yàn)箱高溫溫度為85℃，(模式切換時(shí)間小于5mins），1循環(huán)包括高溫30分鐘，低溫30分鐘，共進(jìn)行100個(gè)循環(huán)。

2.4合格判據(jù)
l）測(cè)試完成后，測(cè)試樣品外觀、機(jī)械功能和電氣功能正常；TP主要性能指標(biāo)（電容值、
線性度、靈敏度、準(zhǔn)確度）達(dá)到要求

3、高溫高濕測(cè)試

3.1測(cè)試目的
確定觸摸屏樣品在高溫濕熱條件下的使用、存儲(chǔ)的適應(yīng)性。
3.2測(cè)試條件
1）85℃，相對(duì)濕度85%，240小時(shí)，測(cè)試樣品全部通電
2）測(cè)試樣品數(shù)量：
a）樣品階段（V3V4、VN1VN2）：32pcs/次，V3V4一次，VN11VN2一次
b）爬坡階段(產(chǎn)量≥3K）：通用模組為64pcs；高風(fēng)險(xiǎn)模組≥96pcs
c）量產(chǎn)階段：供應(yīng)商1pcs/班/生產(chǎn)線
*注：對(duì)于前期評(píng)估出的部分技術(shù)風(fēng)險(xiǎn)較高的項(xiàng)目，在規(guī)格書(shū)中標(biāo)明，將抽測(cè)試的樣本數(shù)量加大；風(fēng)險(xiǎn)較高的項(xiàng)目包含使用到新技術(shù)、新工藝、新材料、新供應(yīng)商、新廠房等的項(xiàng)目，以及預(yù)估海量發(fā)貨的項(xiàng)目。
3.3測(cè)試程序
1）測(cè)試前對(duì)樣品電性能和主要指標(biāo)以及外觀進(jìn)行檢測(cè)；并且對(duì)TP 的 TX、RX通道的電壓信號(hào)用示波器或萬(wàn)用表進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量TX/RX與GND之間電壓，確保通道有電壓信號(hào)。
2）對(duì)樣品供電保證其正常工作，并放置在溫濕度試驗(yàn)箱中，對(duì)試驗(yàn)箱內(nèi)濕度進(jìn)行控制并在2小時(shí)內(nèi)升到85%RH，溫度升到85℃(參考以下測(cè)試曲線），，后保持溫濕進(jìn)行測(cè)試
3）測(cè)試完成后，拿出產(chǎn)品放置于大氣環(huán)境恢復(fù)2小時(shí)，對(duì)樣品進(jìn)行外觀、機(jī)械及各項(xiàng)性能檢查。
3.4合格判據(jù)
1）240H測(cè)試完成后，在室溫放置2小時(shí)后，判定測(cè)試樣品外觀、機(jī)械功能和電氣功能正常；
TP主要性能指標(biāo)（電容值、線性度、靈敏度、準(zhǔn)確度）達(dá)到要求

4、組合應(yīng)力測(cè)試

4.1測(cè)試目的
針對(duì)新材料、新工藝、新技術(shù)應(yīng)用等，在研發(fā)階段發(fā)現(xiàn)其失效模式和缺陷，為分析改進(jìn)提供可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
3.4.2測(cè)試條件
樣品不通電，設(shè)定溫度沖擊試驗(yàn)箱低溫溫度為-40℃，溫度沖擊試驗(yàn)箱高溫溫度為85℃，(模式切換時(shí)間小于5mins） ，1個(gè)循環(huán)包括高溫30 分鐘，低溫30 分鐘，共進(jìn)行100個(gè)循環(huán)。溫度沖擊試驗(yàn)檢查合格后的樣品，進(jìn)行通電溫濕度試驗(yàn)，90%RH，溫度升到70℃，濕度90%RH，試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間240小時(shí)，分別在120小時(shí)，240小時(shí)進(jìn)行功能和電性能測(cè)試。
4.3測(cè)試程序
1）樣品不通電，設(shè)定冷箱溫度為-40℃，熱箱溫度為 85℃，（模式切換時(shí)間小于5mins），1個(gè)循環(huán)包括高溫30分鐘，低溫30分鐘，共進(jìn)行100個(gè)循環(huán)。試驗(yàn)結(jié)束后檢查樣品外觀、機(jī)械功能和電氣功能正常；記錄TP主要性能指標(biāo)（電容值、線性度、靈敏度、準(zhǔn)確度）測(cè)試數(shù)據(jù)。
2）溫度沖擊試驗(yàn)檢查合格后的樣品，進(jìn)行通電溫濕度試驗(yàn)，并且在通電溫濕度試驗(yàn)前對(duì)TP 的 TX、RX通道的電壓信號(hào)用示波器或萬(wàn)用表進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量TX/RX與GND之間電壓，確保通道有電壓信號(hào)。對(duì)試驗(yàn)箱內(nèi)濕度進(jìn)行控制并在2小時(shí)內(nèi)升到90%RH，溫度升到70℃ ，溫濕度試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間240小時(shí)，分別在120小時(shí)，240 小時(shí)進(jìn)行恢復(fù)后的功能和電性能測(cè)試，記錄TP主要性能指標(biāo)（電容值、線性度、靈敏度、準(zhǔn)確度）測(cè)試數(shù)據(jù)。
4.4測(cè)試結(jié)果分析
測(cè)試完成后，應(yīng)給出測(cè)試樣品外觀、機(jī)械功能和電氣功能檢查測(cè)試數(shù)據(jù)報(bào)告，給出樣品失效分析報(bào)告。

5、鹽霧測(cè)試

5.1測(cè)試目的
主要判定TP部件耐腐蝕能力，以及在輕度腐蝕環(huán)境下的適應(yīng)性3.5.2測(cè)試條件鹽霧濃度為5%的 NaCI溶液，在35℃條件下連續(xù)噴24小時(shí)，然后移出進(jìn)行16小時(shí)晾干樣品數(shù)量： 10pcs
5.3測(cè)試程序
1）被測(cè)樣品的要求，將Sensor面暴露在外，F(xiàn)PC用無(wú)影膠帶密封包住，防止與鹽霧接觸
2）樣品在鹽霧測(cè)試前35℃條件下進(jìn)行2小時(shí)的預(yù)處理3）測(cè)試時(shí)樣品不上電，樣品之間相互保持獨(dú)立
4）樣品暴露在鹽霧環(huán)境中，持續(xù)進(jìn)行24小時(shí)。
5）測(cè)試結(jié)束后，將樣品從鹽霧試驗(yàn)箱移除，并在室溫環(huán)境下晾干16小時(shí)
5.4合格判據(jù)
測(cè)試完成后，測(cè)試樣品外觀、機(jī)械功能和電氣功能正常。