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<i style='color:red'>hast</i>老化試驗箱非標(biāo)定制

hast老化試驗箱非標(biāo)定制

產(chǎn)品特點:可定制BIAS偏壓端子組數(shù),提供產(chǎn)品通電測試通過電腦安全便捷的遠(yuǎn)程訪問多層級的敏感數(shù)據(jù)保護(hù)便捷的程序入口、試驗設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控試驗數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進(jìn)行傳輸型號:hast系列        生產(chǎn)方式:非標(biāo)定制品牌:RIUKAI           產(chǎn)地:廣東·東莞非標(biāo)定制產(chǎn)品詳情請咨詢客服
<i style='color:red'>hast</i>設(shè)備

hast設(shè)備

產(chǎn)品特點:可定制BIAS偏壓端子組數(shù),提供產(chǎn)品通電測試通過電腦安全便捷的遠(yuǎn)程訪問多層級的敏感數(shù)據(jù)保護(hù)便捷的程序入口、試驗設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控試驗數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進(jìn)行傳輸可提供130℃溫度、濕度85%RH和230KPa大氣壓的測試條件
<i style='color:red'>hast</i>試驗箱

hast試驗箱

產(chǎn)品特點:用戶可以查看他們希望查看任何數(shù)據(jù)通過電腦安全便捷的遠(yuǎn)程訪問多層級的敏感數(shù)據(jù)保護(hù)便捷的程序入口、試驗設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控試驗數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進(jìn)行傳輸hast測試條件有130℃、85%RH、230KPa大氣壓,96hour測試時間。
<i style='color:red'>hast</i>非飽和高壓加速老化試驗機(jī)

hast非飽和高壓加速老化試驗機(jī)

本設(shè)備廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗。滿足試驗標(biāo)準(zhǔn):GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等
<i style='color:red'>hast</i>非飽和高壓加速老化試驗箱

hast非飽和高壓加速老化試驗箱

內(nèi)箱容積(圓桶):¢300×D450、¢400×D550溫度范圍:+110~+132℃、+110℃~+147℃壓力范圍:壓力表+0.2~2.0kg/cm2、壓力表+0.2~3.0kg/cm2、壓力表+0.3~3.5kg/cm2濕度范圍:65%~100%R.H(可調(diào))適用范圍:本設(shè)備廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗。
<i style='color:red'>hast</i>高壓加速老化試驗箱

hast高壓加速老化試驗箱

可按需定制溫度范圍:A(105℃~132℃);B(105℃~142.9℃);C(105℃~155℃)可選壓力范圍:A(壓力表+0.2~2.0kg/cm);B(壓力表+0.2~3.0kg/cm);C(壓力表+0.2~3.5kg/cm)濕度范圍:65%~100%R.H(可調(diào))濕度波動度:非飽和控制:±2.5%R.H、濕潤飽和控制:100%R.Hhast高壓加速老化試驗箱是在非飽和濕度(65%~100%RH可調(diào))、溫度、壓力等條件下,檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。
JESD22-A118B無偏壓<i style='color:red'>hast</i>加速水汽抵抗性測試標(biāo)準(zhǔn)

JESD22-A118B無偏壓hast加速水汽抵抗性測試標(biāo)準(zhǔn)

無偏hast方法是為了評估非密封封裝固態(tài)器件在潮濕環(huán)境中的可靠性的試驗方法。這是一種高度加速試驗,在非冷凝條件下利用溫度和濕度加速水汽通過外部保護(hù)材料(封裝材料或密封件)或沿著外部保護(hù)材料和金屬導(dǎo)體之間的界面滲透。本試驗中不采用偏壓,以確??赡鼙黄珘貉谏w的失效機(jī)制可以被揭示(如電偶腐蝕)。此測試用于識別封裝內(nèi)部的故障機(jī)制,具有破壞性。
芯片(IC)可靠性測試好幫手——瑞凱儀器<i style='color:red'>hast</i>試驗箱系列

芯片(IC)可靠性測試好幫手——瑞凱儀器hast試驗箱系列

芯片是電子信息產(chǎn)品重要的元器件,是高端制造業(yè)的是核心基石!幾乎每種電子設(shè)備,電腦、手機(jī)、家電、汽車、高鐵、電網(wǎng)、醫(yī)療儀器、機(jī)器人、工業(yè)控制等都使用芯片。瑞凱hast試驗箱主要應(yīng)用于芯片、半導(dǎo)體器件、金屬材料領(lǐng)域,通過爆米花效應(yīng)、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。
<i style='color:red'>hast</i>高加速應(yīng)力測試

hast高加速應(yīng)力測試

原理:試樣在高溫高濕度以及偏壓的苛刻環(huán)境下,加速濕氣穿過外部的保護(hù)層,或沿著金屬和外保護(hù)層的分界面穿透,造成試樣的失效。設(shè)備物料:1.控制的環(huán)境:需要在上升至特定的測試環(huán)境或從特定的環(huán)境下降時,保證壓力、溫度和相對濕度的hast試驗箱;2.溫度曲線記錄:需要記錄每個測試循環(huán)的溫度曲線,以保證能核實壓力的有效性;3.試樣必須位于溫度梯度小處,離內(nèi)壁至少3cm,不能接觸到熱源的直接輻射加熱;
瑞凱儀器:聚焦“半導(dǎo)體器件<i style='color:red'>hast</i>試驗箱”主業(yè),發(fā)揮自身技術(shù)優(yōu)勢

瑞凱儀器:聚焦“半導(dǎo)體器件hast試驗箱”主業(yè),發(fā)揮自身技術(shù)優(yōu)勢

瑞凱儀器掌握hast試驗箱、高低溫試驗箱、冷熱沖擊試驗箱的核心技術(shù),將繼續(xù)緊跟市場發(fā)展步伐,加強(qiáng)對自動化、智能化裝備的研發(fā),著力提升核心競爭力,助推企業(yè)做大做強(qiáng)。

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