聚焦瑞凱,傳遞環(huán)境檢測行業(yè)新動態(tài)
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瑞凱儀器
18 2021-09

風風雨雨-瑞凱儀器闖過的二十年!

瑞凱研發(fā)設(shè)計為一體,并細分為幾大設(shè)計方向,每個方向又設(shè)有專門的技術(shù)研發(fā)團隊模塊,各模塊的設(shè)計結(jié)果匯總為一個整體。這樣既保證了產(chǎn)品的特性,還能達到產(chǎn)品的優(yōu)化。如今,瑞凱堪稱是制造大廠,也基本上具備了多方面面進軍制造強廠的條件。
溫度對大功率LED可靠性的影響

溫度對大功率LED可靠性的影響

對于LED這類超長壽命的電子器件,通常使用比正常使用時所預(yù)期的溫度更高的溫度來進行可靠性試驗,即加速試驗。施加的加速條件…
做高低溫沖擊試驗需注意的三個細節(jié)問題

做高低溫沖擊試驗需注意的三個細節(jié)問題

高低溫沖擊試驗箱內(nèi)空間容積與受試件體積的比值應(yīng)不小于5:1,使高低溫沖擊試驗箱有足夠的熱容量。此外,箱內(nèi)受試件的擺放位置…
案例分析:基于溫度循環(huán)試驗判斷半導體分離器件不良現(xiàn)象

案例分析:基于溫度循環(huán)試驗判斷半導體分離器件不良現(xiàn)象

從以上實例分析中可以看到溫度循環(huán)測試對于半導體分離器件在內(nèi)部不同介質(zhì)界面的可靠性測試中充分反映出潛在需要提高的問題,為產(chǎn)…
溫度循環(huán)測試對芯片燒結(jié)性能的影響

技術(shù)分析:溫度循環(huán)測試對芯片燒結(jié)性能的影響

半導體器件在貯存、運輸和使用過程中時刻要遇到溫度環(huán)境,溫度環(huán)境應(yīng)力對元器件性能的影響時刻存在。例如,高溫時導致半導體器件…
試驗案例:高濕對電子產(chǎn)品安全性能的影響

試驗案例:高濕對電子產(chǎn)品安全性能的影響

高濕條件下,由于水汽吸附吸收和擴散作用,許多材料在吸濕后膨脹、性能變差強度降低,引起機械性能和電性能下降。高濕對設(shè)備安全…
高溫對電源適配器安全性能的影響

試驗案例:高溫對電源適配器安全性能的影響

通過試驗可驗證較高的環(huán)境溫度會增加設(shè)備的發(fā)熱程度。選擇在發(fā)熱上具有一定代表性的試驗樣品,使其處于滿負載的條件下,或處于在…

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