聚焦瑞凱,傳遞環(huán)境檢測行業(yè)新動態(tài)
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瑞凱儀器
18 2021-09

風風雨雨-瑞凱儀器闖過的二十年!

瑞凱研發(fā)設計為一體,并細分為幾大設計方向,每個方向又設有專門的技術研發(fā)團隊模塊,各模塊的設計結(jié)果匯總為一個整體。這樣既保證了產(chǎn)品的特性,還能達到產(chǎn)品的優(yōu)化。如今,瑞凱堪稱是制造大廠,也基本上具備了多方面面進軍制造強廠的條件。
集成電路芯片高低溫測試的應用

集成電路芯片高低溫測試的應用

通過實際應用發(fā)現(xiàn),必須注意以下一些具體的環(huán)節(jié),如測試板的隔離、防潮,被測器件的靜電保護,被測器件芯片溫度的確定等問題、才…
LED燈溫度循環(huán)試驗測試方法

LED燈溫度循環(huán)試驗測試方法

溫度循環(huán)試驗應按照GB/T2423.22-2012的試驗Nb:“規(guī)定變化速率的溫度變化”和下述規(guī)定進行。試驗應在滿足GB…
半導體高溫儲存試驗測試標準

半導體高溫儲存試驗測試標準

國際標準分類中,半導體高溫儲存試驗涉及到半導體分立器件。在中國標準分類中,半導體高溫儲存試驗涉及到半導體分立器件綜合、電…
IC芯片等產(chǎn)品高溫測試失效原因分析

IC芯片等產(chǎn)品高溫測試失效原因分析

該產(chǎn)品的高溫失效問題,與COB各材料都有著密切的關系:PCB、IC、邦定線、黑膠。但主要的原因是在IC質(zhì)量有缺陷的前提下…
高低溫試驗箱箱體內(nèi)框架主體的結(jié)構(gòu)設計

高低溫試驗箱箱體內(nèi)框架主體的結(jié)構(gòu)設計

本文設計的高低溫試驗箱箱體的內(nèi)部工作環(huán)境為非真空狀態(tài),工作溫度范圍廣,內(nèi)部空間尺寸跨度較大,對內(nèi)框架的設計提出了挑戰(zhàn)。如…
PCT高壓加速老化試驗箱價格

PCT高壓加速老化試驗箱價格是多少?

PCT高壓加速老化試驗箱是磁性材料、電子元器件、光電組件等領域常用的測試設備,其工作原理是通過微電腦控制系統(tǒng)智能迅速的產(chǎn)…

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